2月28日,IT之家报道,半导体光刻图案化的核心步骤是根据所需电路结构,用光线照射涂覆在晶圆上的光刻胶。随后,针对某些类型的光刻胶,还需要进行烘烤处理,以加速所需图案的显影。

比利时校际微电子研究中心imec于本月25日指出,在测试平台上,适用于High NA EUV等先进光刻工艺的金属氧化物光刻胶,在氧气含量高于大气环境时,能够实现更显著的烘烤放大效果。这意味着,要达到相同的最终效果,所需的光刻照射剂量更低,从而有助于缩短光刻用时,提升生产效率。
imec在测试中采用了50%的氧气浓度,发现烘烤过程加速了15%至20%。这一趋势在商用金属氧化物光刻胶与模型光刻胶中均有体现,展现了优化半导体光刻全流程效率的新思路。
